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HALT / HASS 加速壽命與篩選測試系統

HALT / HASS 加速壽命與篩選測試系統

HALT / HASS 高加速可靠度測試系統
Highly Accelerated Life Test / Highly Accelerated Stress Screen
HALT / HASS 系統為結合「極端溫度變化」與「多軸隨機振動」之加速可靠度測試設備,用於快速揭露產品設計缺陷與製造潛在問題。
透過溫度應力 + 機械振動疊加,可在極短時間內模擬產品多年使用壽命所承受的環境條件,大幅縮短開發與驗證週期。
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詳細介紹

HALT / HASS 加速壽命與篩選測試機

Highly Accelerated Life Test / Highly Accelerated Stress Screen System

產品定位說明

HALT / HASS 加速壽命與篩選測試機,是結合高速溫度循環系統多軸隨機振動平台的高階可靠度驗證設備。

透過極端溫度變化與機械振動應力疊加,可在短時間內揭露產品設計弱點與製程缺陷,大幅縮短開發週期並提升出貨品質。

本系統廣泛應用於高可靠度電子產品、AI 伺服器、車用電子與半導體模組測試。
 

一、HALT(高度加速壽命測試)

用於:產品研發階段

HALT 透過「逐步提高應力」的方式,找出產品操作極限與破壞極限。

測試方法

  • 階梯式升高溫度應力

  • 階梯式提升振動強度(Grms)

  • 溫度 + 振動同步施加

  • 即時通電功能監控

  • 失效模式分析(Failure Mode Analysis)

技術特點

  • 溫度範圍:-100°C ~ +200°C(依機型)

  • 溫變率:最高可達 60~70°C/min

  • 隨機振動:5~50+ Grms

  • 多軸 6 DOF 激振系統

  • 快速氣流循環設計

二、HASS(高度加速應力篩選)

用於:量產階段品質管控

HASS 是建立在 HALT 結果基礎上,將應力設定在安全區間(約極限值 70~80%),用於篩選早期失效產品。

導入目的 

  • 篩選製程缺陷

  • 移除早期失效品

  • 提升出貨可靠度

  • 降低售後維修成本

適用模式

  • 全檢篩選

  • 抽樣檢驗

批量快速測試

業界常用試驗規範:

  • IEC 60068 Series

  • MIL-STD-810

  • MIL-STD-883

  • JEDEC JESD22

  • IPC-9592