兩箱式冷熱衝擊試驗機
Two-Zone Thermal Shock Test Chamber
產品簡介
兩箱式冷熱衝擊試驗機（Two-Zone Thermal Shock Chamber）主要用於測試電子零組件、半導體元件、車用電子、通訊設備及金屬材料在瞬間溫度劇變條件下的耐受能力。
設備採用高溫區 / 低溫區獨立控制設計，透過氣動或電動切換機構，將測試樣品於極短時間內由高溫區移動至低溫區（或反向），模擬實際環境中急速熱脹冷縮的應力條件。
設備特色
■ 真正瞬間溫度衝擊
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高低溫分區預先恆溫
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切換時間可達 ≤10 秒
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溫度恢復時間快速穩定
■ 穩定精準控制
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進口壓縮機 + 高效率熱交換系統
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PID / 模糊邏輯控制技術
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溫度均勻性佳
■ 節能與高效率設計
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冷凍系統最佳化匹配
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高溫區不啟動壓縮機設計（節能模式）
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冷熱平衡技術降低能耗
■ 智慧監控系統
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7” 觸控式控制器
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USB / LAN / RS485 / Modbus 通訊介面
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可遠端監控與資料匯出
主要技術規格（參考值）
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 測試方式 | 兩箱式氣體切換 |
| 高溫區範圍 | +60℃ ~ +200℃ |
| 低溫區範圍 | -10℃ ~ -70℃ |
| 測試區溫度範圍 | -55℃ ~ +150℃ |
| 溫度恢復時間 | ≤5 min（依規格） |
| 溫度均勻度 | ±2℃ |
| 內箱材質 | SUS#304 不鏽鋼 |
| 外箱材質 | 粉體烤漆鋼板 |
| 電源 | AC 380V / 3Φ / 50-60Hz |
（可依客戶需求客製 50L / 80L / 150L / 300L 等容量）
適用測試標準
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IEC 60068-2-14
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MIL-STD-883
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JEDEC JESD22-A106
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GB / CNS 相關規範
應用產業
✔ 半導體 IC
✔ 車用 ECU / BMS
✔ AI 伺服器零組件
✔ PCB / 被動元件
✔ 航太電子
業界常用試驗規範：
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IEC 60068-2-14
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MIL-STD-883
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MIL-STD-202
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JEDEC JESD22-A104
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JEDEC JESD22-A106
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JIS C 60068